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应力双折射测量系统

Industry category: Precision Optics, Lens & Camera Module Expo

Product range: Optical Imaging Measurement/

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美国Hinds Instruments研发基于PEM光弹调制原理的Exicor高精度应力双折射测量系,可应用于光学晶体,由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力;某些透明材料的内部应力,如光学晶体,玻璃等;液晶显示屏,晶体,胶片等材料的双折射分布。

OPCROWN PHOTONICS COMPANY LIMITED

Hall:Hall 5

Booth No:5C65